Institut d'Électronique et de Télécommunications de Rennes
UMR CNRS 6164

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Caractérisation optique

Contacts : Olivier de Sagazan, Maxime Harnois

  • Microscopie optique :

En réflexion LEICA et en transmission Olympus CX41 avec polarisation

Visualisation de cristaux de pentacene en lumière polarisée à différents grossissements

  • Ellipsomètre Spectroscopique modèle UVISEL2 :

Caractérisation et analyse de surface non destructive permettant de déterminer les épaisseurs et les propriétés optiques des matériaux

Principales caractéristiques techniques :

Gamme spectrale d’analyse 190-2100nm
Angle de mesure 40-90°
Porte substrat 8 pouces XYZ motorisé
Logiciel d’analyse DeltaPsi2 & bibliothèque de matériaux





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